| TOF-SIMS在源岩单组分研究中的应用 | |
| 李荣西; 梁汉东 | |
| 2001 | |
| 发表期刊 | 地学前缘
 |
| 期号 | 2页码:421-423 |
| 其他摘要 | 应用飞行时间二次离子质谱 (TOF SIMS)对源岩单组分进行原位微分析 ,结果表明有机组分(1)二次离子峰集中分布在低质量数一端 ;(2 )无机离子峰强度普遍高于有机离子峰 ;(3)同类型相邻的有机离子峰之间相差一定单位的质量 (14,即CH2 ) ;(4 )不同有机组分峰强度最大的有机离子相同 ,但它们峰的相对强度差异非常明显 ,借助有机离子峰的相对强度可以反映有机组分的化学结构及其生烃性特征。 |
| 关键词 | 烃源岩 单组分 Tof-sims |
| 学科领域 | 矿床地球化学 |
| 收录类别 | CSCD |
| 语种 | 中文 |
| CSCD记录号 | CSCD:574069 |
| 引用统计 | |
| 文献类型 | 期刊论文 |
| 条目标识符 | http://ir.gyig.ac.cn/handle/352002/7366 |
| 专题 | 矿床地球化学国家重点实验室_矿床地球化学国家重点实验室_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李荣西,梁汉东. TOF-SIMS在源岩单组分研究中的应用[J]. 地学前缘,2001(2):421-423. |
| APA | 李荣西,&梁汉东.(2001).TOF-SIMS在源岩单组分研究中的应用.地学前缘(2),421-423. |
| MLA | 李荣西,et al."TOF-SIMS在源岩单组分研究中的应用".地学前缘 .2(2001):421-423. |
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